| Fabrikant | Semilab |
|---|---|
| Model | CMS3 |
| Bouwjaar | |
| Plaats | Verenigde Staten
|
| Categorie | Halfgeleiders - Metrologieapparatuur |
| Software | |
| Draaiuren | |
| uur onder stroom | |
| staat | Goed |
| Volgens lokale normen | --------- |
| toestand | |
| Laatste beschikbaarheidsdatum | 10/03/2026 |
| Product-ID | P240314066 |
| Taal |
Машина за вафли Semilab CMS3
Waferovací stroj Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafer maskine
Semilab CMS3 Waferanlage
Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
Máquina para wafer Semilab CMS3
Machine pour wafer Semilab CMS3
Stroj za oblatne Semilab CMS3
Semilab CMS3 Ostya gép
Macchina per wafer Semilab CMS3
Vaflių mašina Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafelmachine
Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
Máquina de wafer Semilab CMS3
Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
Semilab CMS3 Пластина
Mašina za vafle Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafer maskin
Wafer Makinası Semilab CMS3
|
De Semilab CMS3 is een contactloze emitter laagweerstandstester, ontworpen voor snelle en efficiënte materiaalkarakterisering en procescontrole bij de productie van fotovoltaïsche (PV) silicium wafers. Het is specifiek ontwikkeld om de laagweerstand van emitterlagen op silicium wafers te meten, een kritieke kwaliteitscontroleparameter na emitterdiffusie in PV-toepassingen.
Dit model behoort tot de CMS-serie, die continue meting van wafers mogelijk maakt zonder de transportband te stoppen, waardoor een hoge doorvoersnelheid wordt geboden die geschikt is voor inline kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen. De gebruikte meettechniek is junction photovoltage (JPV), een contactloze methode die minimale verstoring van het monster garandeert.
De CMS3 ondersteunt waferafmetingen van 100 mm tot 156 mm, met een optie voor 210 mm wafers. Het accommodate monsters met np- of pn-junctiestructuren en meet de laagweerstand binnen een bereik van 10 Ω/vierkant tot 200 Ω/vierkant. De probe houdt een hoogte van ongeveer 1,5 mm boven de transportband en de tolereerbare verticale positie van de wafer blijft onder de 400 µm. Monsters worden tijdens de meting ondersteund op een band, en kalibratie wordt uitgevoerd met wafers die zijn geverifieerd met een vierpuntsondemethode.
De apparatuur bevat een meetmodule die 1 tot 5 meetkoppen voor laagweerstand kan huisvesten. Deze wordt bediend via een industriële pc met Windows-besturingssysteem, inclusief randapparatuur. Het systeem biedt verschillende interfaceopties voor automatisering en Manufacturing Execution Systems (MES), zoals 24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet, Profibus, OPC DA, TCP/IP-protocollen met XML- of ASCII-inhoud, SQL-databaseondersteuning en SECS/GEM-compatibiliteit.
Op de afbeeldingen is de CMS3-opstelling te zien die is geïnstalleerd op een witte tafel met een computermonitor erboven gemonteerd, wat de gebruikersinteractie vergemakkelijkt. Een mechanische arm of proefopstelling maakt deel uit van de uitrusting en heeft een waarschuwingslabel "Pinch point" dat mechanische gevarenzones aangeeft. Het voorste gedeelte van de apparatuur heeft een metalen basis met een zwart-witte behuizing. Daarnaast zijn er onder de tafel een toetsenbordlade en een industriële computer zichtbaar die de systeemwerking ondersteunen.
Op de apparatuur bevinden zich veiligheidslabels, waaronder een waarschuwingslabel met een uitroepteken en symbolen voor mechanisch gevaar, wat de noodzaak van voorzichtigheid tijdens de bediening benadrukt. Deze combinatie van functies en componenten maakt de Semilab CMS3 tot een robuuste oplossing voor hoogdoorvoersnelheid, contactloze emitter laagweerstandstest in productieomgevingen voor halfgeleiders.
De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.
SNELLE CONTACTLOZE MATERIAALKARAKTERISERING EN PROCESBESTURING
De weerstand van de emitterplaat is een primaire parameter voor kwaliteitscontrole van siliciumwafers in PV-toepassingen na emitterdiffusie.
Met de CLS-modellen CLS-1A, CLS-3A en CLS-5A, weerstandstesters voor emitterplaten, kan de plaatweerstand op 1 tot 5 punten worden gemeten met een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de eisen van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.
Met de CMS modellen, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers kunnen wafers gemeten worden, d.w.z. de transportband stopt niet tijdens de meting. Daarom hebben ze een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de vereisten van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.
Kenmerken en systeemspecificaties:
Meettechniek: contactloos, junction photovoltage (JPV)
Monstergrootte: 100 tot 156 mm (210 mm optie)
Monsterstructuur: np- of pn-juncties
Meetbereik: 10 Î/sq. tot 200 I/sq.
Sondeafstand: 1,5 mm sondehoogte boven transportband
Tolerantie verticale positie wafer: < 400 μm
Monstersteun: op band
Kalibratie: door wafers geverifieerd met vierpuntssonde
Opties:
Meetmodule (incl. 1A-5A meetkoppen voor plaatweerstand)
Industriële pc (Windows-besturingssysteem) en randapparatuur
Optie: CLS-1M emittercontrole
Wafer-aanwezigheidssensor (alleen CMS)
Grote verscheidenheid aan beschikbare interfaces voor automatisering en MES:
24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet-interface
Profibus
OPC DA
TCP/IP-protocol, inhoud kan XML of ASCII zijn
SQL-database
SECS/GEM
Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.
| Type klant | Machinehandelaar |
| Actief sinds | 2019 |
| Aanbiedingen online | 57 |
| Laatste Activiteit | 17 oktober 2026 |
SNELLE CONTACTLOZE MATERIAALKARAKTERISERING EN PROCESBESTURING
De weerstand van de emitterplaat is een primaire parameter voor kwaliteitscontrole van siliciumwafers in PV-toepassingen na emitterdiffusie.
Met de CLS-modellen CLS-1A, CLS-3A en CLS-5A, weerstandstesters voor emitterplaten, kan de plaatweerstand op 1 tot 5 punten worden gemeten met een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de eisen van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.
Met de CMS modellen, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers kunnen wafers gemeten worden, d.w.z. de transportband stopt niet tijdens de meting. Daarom hebben ze een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de vereisten van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.
Kenmerken en systeemspecificaties:
Meettechniek: contactloos, junction photovoltage (JPV)
Monstergrootte: 100 tot 156 mm (210 mm optie)
Monsterstructuur: np- of pn-juncties
Meetbereik: 10 Î/sq. tot 200 I/sq.
Sondeafstand: 1,5 mm sondehoogte boven transportband
Tolerantie verticale positie wafer: < 400 μm
Monstersteun: op band
Kalibratie: door wafers geverifieerd met vierpuntssonde
Opties:
Meetmodule (incl. 1A-5A meetkoppen voor plaatweerstand)
Industriële pc (Windows-besturingssysteem) en randapparatuur
Optie: CLS-1M emittercontrole
Wafer-aanwezigheidssensor (alleen CMS)
Grote verscheidenheid aan beschikbare interfaces voor automatisering en MES:
24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet-interface
Profibus
OPC DA
TCP/IP-protocol, inhoud kan XML of ASCII zijn
SQL-database
SECS/GEM
Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.
| Categorie | Halfgeleiders - Metrologieapparatuur |
| Software | |
| Draaiuren | |
| uur onder stroom | |
| staat | Goed |
| Volgens lokale normen | --------- |
| toestand | |
| Laatste beschikbaarheidsdatum | 10/03/2026 |
| Product-ID | P240314066 |
| Taal |
Машина за вафли Semilab CMS3
Waferovací stroj Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafer maskine
Semilab CMS3 Waferanlage
Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
Máquina para wafer Semilab CMS3
Machine pour wafer Semilab CMS3
Stroj za oblatne Semilab CMS3
Semilab CMS3 Ostya gép
Macchina per wafer Semilab CMS3
Vaflių mašina Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafelmachine
Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
Máquina de wafer Semilab CMS3
Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
Semilab CMS3 Пластина
Mašina za vafle Semilab CMS3
Semilab CMS3 Wafer maskin
Wafer Makinası Semilab CMS3
|
De Semilab CMS3 is een contactloze emitter laagweerstandstester, ontworpen voor snelle en efficiënte materiaalkarakterisering en procescontrole bij de productie van fotovoltaïsche (PV) silicium wafers. Het is specifiek ontwikkeld om de laagweerstand van emitterlagen op silicium wafers te meten, een kritieke kwaliteitscontroleparameter na emitterdiffusie in PV-toepassingen.
Dit model behoort tot de CMS-serie, die continue meting van wafers mogelijk maakt zonder de transportband te stoppen, waardoor een hoge doorvoersnelheid wordt geboden die geschikt is voor inline kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen. De gebruikte meettechniek is junction photovoltage (JPV), een contactloze methode die minimale verstoring van het monster garandeert.
De CMS3 ondersteunt waferafmetingen van 100 mm tot 156 mm, met een optie voor 210 mm wafers. Het accommodate monsters met np- of pn-junctiestructuren en meet de laagweerstand binnen een bereik van 10 Ω/vierkant tot 200 Ω/vierkant. De probe houdt een hoogte van ongeveer 1,5 mm boven de transportband en de tolereerbare verticale positie van de wafer blijft onder de 400 µm. Monsters worden tijdens de meting ondersteund op een band, en kalibratie wordt uitgevoerd met wafers die zijn geverifieerd met een vierpuntsondemethode.
De apparatuur bevat een meetmodule die 1 tot 5 meetkoppen voor laagweerstand kan huisvesten. Deze wordt bediend via een industriële pc met Windows-besturingssysteem, inclusief randapparatuur. Het systeem biedt verschillende interfaceopties voor automatisering en Manufacturing Execution Systems (MES), zoals 24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet, Profibus, OPC DA, TCP/IP-protocollen met XML- of ASCII-inhoud, SQL-databaseondersteuning en SECS/GEM-compatibiliteit.
Op de afbeeldingen is de CMS3-opstelling te zien die is geïnstalleerd op een witte tafel met een computermonitor erboven gemonteerd, wat de gebruikersinteractie vergemakkelijkt. Een mechanische arm of proefopstelling maakt deel uit van de uitrusting en heeft een waarschuwingslabel "Pinch point" dat mechanische gevarenzones aangeeft. Het voorste gedeelte van de apparatuur heeft een metalen basis met een zwart-witte behuizing. Daarnaast zijn er onder de tafel een toetsenbordlade en een industriële computer zichtbaar die de systeemwerking ondersteunen.
Op de apparatuur bevinden zich veiligheidslabels, waaronder een waarschuwingslabel met een uitroepteken en symbolen voor mechanisch gevaar, wat de noodzaak van voorzichtigheid tijdens de bediening benadrukt. Deze combinatie van functies en componenten maakt de Semilab CMS3 tot een robuuste oplossing voor hoogdoorvoersnelheid, contactloze emitter laagweerstandstest in productieomgevingen voor halfgeleiders.
De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.
| Type klant | Machinehandelaar |
| Actief sinds | 2019 |
| Aanbiedingen online | 57 |
| Laatste Activiteit | 17 oktober 2026 |
English (EU)
English (GB)