Fischerscope X-Ray XDVM-W

Geverifieerde verkoper

14.000 €

Doe een tegenbod
Fabrikant Fischerscope
Model X-Ray XDVM-W
Bouwjaar 2004
Plaats Italië IT
Santi
Uw toegewijde contact
Santi C.

Automatische beschrijving (door AI gegenereerd)

De Fischerscope X-Ray XDVM-W is een geavanceerde laagdiktemeter ontworpen voor nauwkeurige metingen van metalen coatingsystemen. Gefabriceerd in 2004 door Helmut Fischer GmbH + Co KG in Duitsland, voldoet dit röntgensysteem aan CE-normen en is geïdentificeerd onder het type XDVM-T7-W. Het werkt op een 230 V-voeding met een stroomverbruik van 120 W en ondersteunt frequenties van 50-60 Hz.

Dit apparaat kan de laagdikte en legeringssamenstelling meten voor een breed scala aan metalen coatings, waaronder enkelvoudige, binaire en terniaire legeringscoatings, evenals dubbele en drievoudige coatings met of zonder legeringslagen. Het systeem is uitgerust met een bedieningspaneel en toetsenbord aan de voorkant, samen met een computeropstelling bestaande uit twee torens en een monitor die de WinFTM XDVM-W software-interface (versie 3.23-PDM van 14.04.2009) weergeeft. De software maakt gedetailleerde analyses mogelijk, zoals het meten van de laagdikte en het nikkelgehalte in ZnNi/Fe-coatings.

Veiligheid is een belangrijk aspect van de Fischerscope XDVM-W, met meerdere waarschuwingslabels die wijzen op röntgen- en stralingsgevaar op de machine, inclusief het voorste glaspaneel en de machinebehuizing. De machine is momenteel bedekt met een doorzichtige plastic folie ter bescherming of opslag, en hoewel deze er over het algemeen fysiek in goede staat uitziet, is er zichtbaar vuil en stof op de onderste delen onder de folie.

Houd er rekening mee dat er een extra kost van €4.000,00 plus btw geldt voor de installatie door Fischerscope Italia. Deze installatie omvat het vervangen van een printplaat en een speciale kalibratie die is afgestemd op de specifieke meetvereisten van de klant. Voor elk te meten type coating is een aparte installatie nodig. Na dit onderhoud wordt verwacht dat de machine als nieuw functioneert.

De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.

Beschrijving van de verkoper

Fischerscope X-Ray XDVM-W laagdiktemeter

Type: XDVM-T7-W

Systeemmodel X-RAY
EC-conforme machine
Bouwjaar 2004

De FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W kan de laagdikte en legeringssamenstelling van elk metalen coatingsysteem meten, inclusief enkelvoudige, binaire en ternaire legeringscoatings, dubbele coatings met of zonder legeringslaag en drievoudige coatings.

Hierbij komen nog de kosten van de Fiscerscope Italia set-up van € 4.000,00 + BTW,
Deze bestaat uit het vervangen van een kaart en een speciale set-up voor de eindklant voor de metingen die hij nodig heeft, voor elk type coating dat moet worden gemeten is een speciale set-up nodig, na dit onderhoud is de machine weer zo goed als nieuw.

Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.


Veelgestelde vragen (door AI gegenereerd)

  • Wat is het doel van deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is een coatingdiktemeter die ontworpen is om de coatingdikte en legeringensamenstelling van verschillende metalen coatingsystemen te meten.

  • Wat zijn de afmetingen van de meetkamer?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W heeft een meetkamer met afmetingen van 560 mm x 530 mm x 160 mm (22" x 20,9" x 6,3").

  • Wat zijn de verplaatsingsafstanden van de XY-meettrappen?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W bevat zeer nauwkeurige, snelle, programmeerbare XY-meettrappen met verplaatsingsafstanden van 175 mm x 175 mm (6,9" x 6,9") en 250 mm x 250 mm (9,8" x 9,8").

  • Wat is de bewegingsafstand van de Z-as meetkop?

  • Deze apparatuur heeft een programmeerbare Z-as meetkop met een slaglengte van 145 mm (5,7").

  • Welk type röntgenbuis heeft deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is uitgerust met een hoogwaardige röntgenbuis met microfocus en bevat primaire filters voor Ni en Be.

  • Welk type tellerbuis wordt bij deze Fischerscope X-Ray XDVM-W geleverd?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W bevat een met Xenon gevulde proportionele tellerbuis met interne 4096 kanaals ADC spectrumverwerking.

  • Welke software is compatibel met deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is compatibel met de WinFTM® software van Fischer, die draait onder Windows™ 95/98 en Windows™ NT.

  • In welk jaar werd deze Fischerscope X-Ray XDVM-W gebouwd?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W werd gebouwd in het jaar 2004.

  • Is deze Fischer Fischerscope momenteel beschikbaar?

  • Dit Fischer Fischerscope diktemeetinstrument is momenteel beschikbaar.

  • Deze Fischer Fischerscope vereist reparatie en kalibratie vóór gebruik?

  • Deze Fischer Fischerscope vereist reparatie en kalibratie voor het materiaal van de klant voordat hij wordt gebruikt.

  • Is deze Fischer Fischerscope verkoopbaar in de huidige staat?

  • Deze Fischer Fischerscope is in zijn huidige staat verkoopbaar.

De volgende vragen en antwoorden zijn gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Ze dienen alleen als richtlijn en weerspiegelen mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig hebt.


fischerscope-x-ray-xdvm-w-p220825039_3.pdf Downloaden
Type klant Machinehandelaar
Actief sinds 2016
Aanbiedingen online 9
Laatste Activiteit 16 oktober 2026

Beschrijving van de verkoper

Fischerscope X-Ray XDVM-W laagdiktemeter

Type: XDVM-T7-W

Systeemmodel X-RAY
EC-conforme machine
Bouwjaar 2004

De FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W kan de laagdikte en legeringssamenstelling van elk metalen coatingsysteem meten, inclusief enkelvoudige, binaire en ternaire legeringscoatings, dubbele coatings met of zonder legeringslaag en drievoudige coatings.

Hierbij komen nog de kosten van de Fiscerscope Italia set-up van € 4.000,00 + BTW,
Deze bestaat uit het vervangen van een kaart en een speciale set-up voor de eindklant voor de metingen die hij nodig heeft, voor elk type coating dat moet worden gemeten is een speciale set-up nodig, na dit onderhoud is de machine weer zo goed als nieuw.

Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.


Veelgestelde vragen (door AI gegenereerd)

  • Wat is het doel van deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is een coatingdiktemeter die ontworpen is om de coatingdikte en legeringensamenstelling van verschillende metalen coatingsystemen te meten.

  • Wat zijn de afmetingen van de meetkamer?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W heeft een meetkamer met afmetingen van 560 mm x 530 mm x 160 mm (22" x 20,9" x 6,3").

  • Wat zijn de verplaatsingsafstanden van de XY-meettrappen?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W bevat zeer nauwkeurige, snelle, programmeerbare XY-meettrappen met verplaatsingsafstanden van 175 mm x 175 mm (6,9" x 6,9") en 250 mm x 250 mm (9,8" x 9,8").

  • Wat is de bewegingsafstand van de Z-as meetkop?

  • Deze apparatuur heeft een programmeerbare Z-as meetkop met een slaglengte van 145 mm (5,7").

  • Welk type röntgenbuis heeft deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is uitgerust met een hoogwaardige röntgenbuis met microfocus en bevat primaire filters voor Ni en Be.

  • Welk type tellerbuis wordt bij deze Fischerscope X-Ray XDVM-W geleverd?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W bevat een met Xenon gevulde proportionele tellerbuis met interne 4096 kanaals ADC spectrumverwerking.

  • Welke software is compatibel met deze Fischerscope X-Ray XDVM-W?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W is compatibel met de WinFTM® software van Fischer, die draait onder Windows™ 95/98 en Windows™ NT.

  • In welk jaar werd deze Fischerscope X-Ray XDVM-W gebouwd?

  • Deze Fischerscope X-Ray XDVM-W werd gebouwd in het jaar 2004.

  • Is deze Fischer Fischerscope momenteel beschikbaar?

  • Dit Fischer Fischerscope diktemeetinstrument is momenteel beschikbaar.

  • Deze Fischer Fischerscope vereist reparatie en kalibratie vóór gebruik?

  • Deze Fischer Fischerscope vereist reparatie en kalibratie voor het materiaal van de klant voordat hij wordt gebruikt.

  • Is deze Fischer Fischerscope verkoopbaar in de huidige staat?

  • Deze Fischer Fischerscope is in zijn huidige staat verkoopbaar.

De volgende vragen en antwoorden zijn gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Ze dienen alleen als richtlijn en weerspiegelen mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig hebt.



Automatische beschrijving (door AI gegenereerd)

De Fischerscope X-Ray XDVM-W is een geavanceerde laagdiktemeter ontworpen voor nauwkeurige metingen van metalen coatingsystemen. Gefabriceerd in 2004 door Helmut Fischer GmbH + Co KG in Duitsland, voldoet dit röntgensysteem aan CE-normen en is geïdentificeerd onder het type XDVM-T7-W. Het werkt op een 230 V-voeding met een stroomverbruik van 120 W en ondersteunt frequenties van 50-60 Hz.

Dit apparaat kan de laagdikte en legeringssamenstelling meten voor een breed scala aan metalen coatings, waaronder enkelvoudige, binaire en terniaire legeringscoatings, evenals dubbele en drievoudige coatings met of zonder legeringslagen. Het systeem is uitgerust met een bedieningspaneel en toetsenbord aan de voorkant, samen met een computeropstelling bestaande uit twee torens en een monitor die de WinFTM XDVM-W software-interface (versie 3.23-PDM van 14.04.2009) weergeeft. De software maakt gedetailleerde analyses mogelijk, zoals het meten van de laagdikte en het nikkelgehalte in ZnNi/Fe-coatings.

Veiligheid is een belangrijk aspect van de Fischerscope XDVM-W, met meerdere waarschuwingslabels die wijzen op röntgen- en stralingsgevaar op de machine, inclusief het voorste glaspaneel en de machinebehuizing. De machine is momenteel bedekt met een doorzichtige plastic folie ter bescherming of opslag, en hoewel deze er over het algemeen fysiek in goede staat uitziet, is er zichtbaar vuil en stof op de onderste delen onder de folie.

Houd er rekening mee dat er een extra kost van €4.000,00 plus btw geldt voor de installatie door Fischerscope Italia. Deze installatie omvat het vervangen van een printplaat en een speciale kalibratie die is afgestemd op de specifieke meetvereisten van de klant. Voor elk te meten type coating is een aparte installatie nodig. Na dit onderhoud wordt verwacht dat de machine als nieuw functioneert.

De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.


Over deze verkoper

Type klant Machinehandelaar
Actief sinds 2016
Aanbiedingen online 9
Laatste Activiteit 16 oktober 2026

Hier vindt u een selectie van vergelijkbare machines - Fischerscope X-Ray XDVM-W

Fischerscope X-Ray XDVM-W