ASML Yieldstar S-200B Halfgeleidermachine

Geverifieerde verkoper

Prijs op aanvraag

Doe een tegenbod
Fabrikant ASML
Model Yieldstar S-200B
Bouwjaar 2011
Plaats Duitsland DE
Jérémie
Uw toegewijde contact
Jérémie R.

Automatische beschrijving (door AI gegenereerd)

De ASML YieldStar S-200B is een precisie optisch overlay-meetsysteem geproduceerd in 2011, specifiek ontworpen voor de inspectie van halfgeleiderwafers. Dit model is geoptimaliseerd voor wafers van 300 mm (12 inch) en wordt veel gebruikt bij post-etsmonitoring om nauwkeurige overlay-controle te waarborgen tijdens productieprocessen van halfgeleiders. Het systeem maakt gebruik van een LPPS-laserbron met waterkoeling, wat de meetstabiliteit en nauwkeurigheid verbetert.

De apparatuur beschikt over vier zwarte waferhouders of verwerkingsstations aan de voorzijde beneden, wat efficiënt hanteren en meten van wafers mogelijk maakt. Boven deze houders bevindt zich een bedieningspaneel met knoppen en indicatoren, wat de bediening en monitoring van de systeemstatus door de gebruiker vergemakkelijkt. Daarnaast is het systeem voorzien van een aangesloten computermonitor en een toetsenbordhouder aan de linkerkant, die een geïntegreerde interface bieden voor gegevensinvoer en analyse.

De machine ziet er schoon en goed onderhouden uit zonder zichtbare schade, wat duidt op zorgvuldige behandeling en opslag. Het ontwerp en de componenten weerspiegelen de rol van het systeem als een zelfstandig systeem voor snelle, hoogprecisie metingen van overlay-afwijkingen, cruciaal voor het behouden van de productiekwaliteit in de halfgeleiderfabricage. Dit maakt de ASML YieldStar S-200B een waardevolle aanwinst voor faciliteiten die betrouwbare overlay-metrologische oplossingen vereisen.

De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.

Beschrijving van de verkoper

Model: YieldStar S-200B
Fabrikant: ASML
Jaar van fabricage: 2011
Technische staat: Zoals het is, waar het is
Type: YieldStar
Wafergrootte: 300 mm (12")
Laserbron: LPPS, waterkoeling
Algemene beschrijving: De YSS200B is een optisch meetsysteem voor overlay, ontworpen voor snelle en zeer nauwkeurige metingen van overlayafwijkingen op 300 mm wafers. Het wordt meestal gebruikt als stand-alone systeem voor bewaking na het etsen in de productieprocesbesturing.

Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.


Type klant Machinehandelaar
Actief sinds 2025
Aanbiedingen online 34
Laatste Activiteit 14 oktober 2026

Beschrijving van de verkoper

Model: YieldStar S-200B
Fabrikant: ASML
Jaar van fabricage: 2011
Technische staat: Zoals het is, waar het is
Type: YieldStar
Wafergrootte: 300 mm (12")
Laserbron: LPPS, waterkoeling
Algemene beschrijving: De YSS200B is een optisch meetsysteem voor overlay, ontworpen voor snelle en zeer nauwkeurige metingen van overlayafwijkingen op 300 mm wafers. Het wordt meestal gebruikt als stand-alone systeem voor bewaking na het etsen in de productieprocesbesturing.

Houd er rekening mee dat deze omschrijving mogelijk automatisch is vertaald of geoptimaliseerd met kunstmatige intelligentie (AI). De informatie in deze advertentie is alleen indicatief. We raden aan de details voor aankoop bij de verkoper te controleren.



Automatische beschrijving (door AI gegenereerd)

De ASML YieldStar S-200B is een precisie optisch overlay-meetsysteem geproduceerd in 2011, specifiek ontworpen voor de inspectie van halfgeleiderwafers. Dit model is geoptimaliseerd voor wafers van 300 mm (12 inch) en wordt veel gebruikt bij post-etsmonitoring om nauwkeurige overlay-controle te waarborgen tijdens productieprocessen van halfgeleiders. Het systeem maakt gebruik van een LPPS-laserbron met waterkoeling, wat de meetstabiliteit en nauwkeurigheid verbetert.

De apparatuur beschikt over vier zwarte waferhouders of verwerkingsstations aan de voorzijde beneden, wat efficiënt hanteren en meten van wafers mogelijk maakt. Boven deze houders bevindt zich een bedieningspaneel met knoppen en indicatoren, wat de bediening en monitoring van de systeemstatus door de gebruiker vergemakkelijkt. Daarnaast is het systeem voorzien van een aangesloten computermonitor en een toetsenbordhouder aan de linkerkant, die een geïntegreerde interface bieden voor gegevensinvoer en analyse.

De machine ziet er schoon en goed onderhouden uit zonder zichtbare schade, wat duidt op zorgvuldige behandeling en opslag. Het ontwerp en de componenten weerspiegelen de rol van het systeem als een zelfstandig systeem voor snelle, hoogprecisie metingen van overlay-afwijkingen, cruciaal voor het behouden van de productiekwaliteit in de halfgeleiderfabricage. Dit maakt de ASML YieldStar S-200B een waardevolle aanwinst voor faciliteiten die betrouwbare overlay-metrologische oplossingen vereisen.

De volgende beschrijving is gegenereerd met behulp van kunstmatige intelligentie op basis van de beschikbare productinformatie. Deze beschrijving dient uitsluitend ter informatie en geeft mogelijk niet alle specificaties of voorwaarden weer. Neem contact met ons op als u precieze of bevestigde details nodig heeft.


Over deze verkoper

Type klant Machinehandelaar
Actief sinds 2025
Aanbiedingen online 34
Laatste Activiteit 14 oktober 2026

Hier vindt u een selectie van vergelijkbare machines - ASML Yieldstar S-200B

ASML Yieldstar S-200B Halfgeleidermachine